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Les prochains événements en test et mesure Cédric Lardière
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Les prochains événements en test et mesure
Séminaires gratuits organisés par JTAG Technologies le 18 mars 2008 à Massy - Palaiseau (91). Pour plus d'informations et pour s'enregistr...

Cédric Lardière , Electronique International, le 14/03/2008 à 13h19

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Séminaires gratuits organisés par JTAG Technologies le 18 mars 2008 à Massy - Palaiseau (91). Pour plus d'informations et pour s'enregistrer : www.jtag.fr/fr/Au_sujet_de_JTAG/Evenements/Seminaires

Journées technologiques sur l'instrumentation organisées par National Instruments le 18 mars 2008 à Neuville-en-Ferrain (59), le 20 mars 2008 à Lyon (69) et le 10 avril 2008 à Paris (75). Pour plus d'informations et pour s'enregistrer : sine.ni.com/apps/utf8/



Conférence sur la caractérisation paramétrique et micro-onde organisée par Agilent Technologies le 20 mars 2008 à l'Université Paris VI. Cette journée est également organisée par MB Electronique, distributeur de Cascade Microtech, et le L2E de l'Université Pierre et Marie Curie. Pour plus d'informations et pour s'enregistrer : www.home.agilent.com/agilent/




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