Electronique - Test in situ : Agilent Technologies ajoute une technique sans points de test




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Test in situ : Agilent Technologies ajoute une technique sans points de test Cédric Lardière
[ TEST ÉLECTRIQUE - INDUSTRIE ]
Test in situ : Agilent Technologies ajoute une technique sans points de test
L'américain Agilent Technologies, premier fournisseur mondial d'instrumentation électronique, vient d'introduire une technologie d'extension...

Cédric Lardière , Electronique International, le 25/03/2008 à 12h18

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L'américain Agilent Technologies, premier fournisseur mondial d'instrumentation électronique, vient d'introduire une technologie d'extension de couverture (Cover-Extend Technology) à sa suite de test sans vecteur VTEP 2.0 Powered! destinée aux testeurs électriques Medalist. Cette nouvelle fonctionnalité est une technologie hybride entre le test sans vecteur et le boundary scan. Évitant toujours le recours à des points de test pour l'accès à la carte électronique, la Cover-Extend Technology s'appuie en fait sur des stimuli fournis par les cellules boundary scan. Avantages : couverture de test accrue en pérennisant les équipements possédés par les utilisateurs, réduction des coûts des interfaces de test, relaxation des contraintes sur les joints de soudure.


Carte de multiplexage et sonde VTEP d'Agilent Technologies avec la Cover-Extend Technology



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