Electronique - Les prochains événements en test et mesure

[ INSTRUMENTATION GÉNÉRALE - INDUSTRIE ]
Les prochains événements en test et mesure
Séminaire LTE réalisé en anglais et organisé par Rohde & Schwarz le 3 avril 2008 à Meudon-la-Forêt (92). Pour plus d'informations et pour ...

Cédric Lardière , Electronique International, le 31/03/2008 à 12h20

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Séminaire LTE réalisé en anglais et organisé par Rohde & Schwarz le 3 avril 2008 à Meudon-la-Forêt (92). Pour plus d'informations et pour s'enregistrer : http://www.rohde-schwarz.com/

Le Printemps des technologies en acquisition, mesure et test, journée gratuite organisée par AcquiSys le 10 avril 2008 à Montigny-le-Bretonneux (78). Pour plus d'informations et pour s'enregistrer : http://www.acquisys.fr ou 01 34 52 40 90

Séminaire "Challenges and Solutions for Advanced DC Parametric Testing" organisé par Agilent Technologies le 16 avril 2008 à Grenoble (38). Pour plus d'informations et pour s'enregistrer : http://www.home.agilent.com/