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Les prochains événements en test et mesure Cédric Lardière
[ INSTRUMENTATION GÉNÉRALE - INDUSTRIE ]
Les prochains événements en test et mesure
Entre deux grands salons, industriels, ingénieurs et techniciens ont également l'occasion de découvrir les dernières nouveautés en test et m...

Cédric Lardière , Electronique International, le 14/05/2008 à 12h19

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Entre deux grands salons, industriels, ingénieurs et techniciens ont également l'occasion de découvrir les dernières nouveautés en test et mesure, de faire le point sur des technologies et de discuter avec des fournisseurs lors des journées constructeurs. Forum sur le vieillissement et le test environnemental organisé par MB Electronique le 15 mai 2008 à Buc (78). Pour de plus amples informations et pour s'enregistrer : www.mbelectronique.fr. Journées technologiques sur l'automatisation industrielle et les systèmes embarqués organisées par National Instruments le 20 mai 2008 à Strasbourg (67), le 22 mai 2008 à Lyon (69), le 27 mai 2008 à Toulouse (31), le 29 mai 2008 à Nantes (44) et le 3 juin 2008 à Neuville-en-Ferrain (59). Pour plus d'informations et pour s'enregistrer : sine.ni.com/ Journées technologiques de l'enseignement organisées par National Instruments le 20 mai 2008 à Nantes (44) et le 22 mai 2008 à Paris (75). Pour plus d'informations et pour s'enregistrer : sine.ni.com/ Séminaires Mesurer et tester avec rapidité, précision en toute simplicité organisés par Keithley Instruments le 27 mai 2008 à Rennes (35), le 28 mai 2008 à Massy (91), le 29 mai 2008 à Villeneuve d'Ascq (59) et le 4 juin 2008 à Strasbourg (67). Pour plus d'informations et pour s'enregistrer : www.keithley.eu.com/art_resource.php?sid=ep7j.dtf6iq Séminaire sur la conception, le test et la vérification des liens de données série haute vitesse organisé par Tektronix le 29 mai 2008 à Paris (75) et le 3 juin 2008 à Grenoble (38), en partenariat avec Ansoft et Altera. Pour de plus amples informations et pour s'enregistrer : tektronix.seminars.net/HSSDFRANCE/index.html




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