Générateur d’impulsions pour la caractérisation I-V

Le 28/12/2005 à 7:00 par La rédaction
Kit PIV pour 4200-SCS de Keithley Instruments Cette option du système de caractérisation des semiconducteurs permet l’analyse de composants continus (SOI, FinFET) grâce à des signaux pulsés. 2 voies indépendantes Gamme en fréquence : de 1 Hz à 50 MHz Largeur, temps de répétition, temps de montée et de descente, amplitude, décalage réglables Durée d’impulsion…
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