Electroniques.biz

Lancement d'un projet de recherche européen pour prévenir les failles des objets connectés

Rédigé par  mercredi, 04 décembre 2019 14:59
Lancement d'un projet de recherche européen pour prévenir les failles des objets connectés

Porté par STMicroelectronics (France) et Infineon Technologies (Allemagne), autour d’un consortium de 14 partenaires industriels et académiques européens, ce projet débutera en avril 2020 et durera trois ans. Son objectif : développer un processus automatisé opérationnel pour diagnostiquer et prévenir les défaillances et défauts de composants électroniques.

L’École des Mines de Saint‐Étienne s’engage dans le projet collaboratif européen « Failure Analysis 4.0 », consacré à l’un des grands défis liés à la digitalisation et à l’automatisation : la prédictabilité des défaillances lors de la production des puces et systèmes électroniques.

Porté par ST Microelectronics (France) et Infineon Technologies (Allemagne), autour d’un consortium de 14 partenaires industriels et académiques européens, ce projet débutera en avril 2020 et durera trois ans. Son objectif : développer un processus automatisé opérationnel pour diagnostiquer et prévenir les défaillances et défauts de composants électroniques de plus en plus complexes, notamment en microélectronique et en Internet des objets (IoT).

Ayant développé depuis des années, via ses centres de recherches, une culture partenariale et collaborative en R&D, l’Ecole des Mines de Saint‐Etienne apporte dans ce projet l’expertise des chercheurs de l’Institut Fayol, à la confluence entre génie industriel et techniques de machine learning. Leurs connaissances pointues en big data, en mathématiques appliquées, analyse des données, méthodes statistiques et algorithmes d’apprentissage, contribueront à développer une nouvelle génération d’outils et de procédures de diagnostics et à créer des algorithmes intelligents pour l’identification et la catégorisation des défauts.

L’enjeu est de réduire les défaillances en production grâce à des approches prédictives et d’anticipation, avec des impacts économiques importants pour l’industrie de la micro‐électronique. D’un budget total de 11,2 millions d’euros dont 382 000 euros pour Mines Saint‐Étienne, « Failure Analysis » est financé par le programme Eureka / Penta Euripides et coordonné par Xavier Boucher, directeur de recherche à l’Institut Fayol (équipe LIMOS-CNRS).

Il regroupe, autour d’Infineon Technologies, coordinateur du projet, des partenaires venus d’Allemagne, France, République Tchèque, dont STMicroelectronics, Bosch, des PME, Fraunhofer IMWS, l’université de Stuttgart, l’université Jean‐Monnet de Saint‐Etienne et l’Ecole des Mines, partenaire de long terme de STMicroelectronics.

L’objectif de ce consortium est de développer des solutions de diagnostic et de réduire les risques de défauts tout au long de la chaîne de conception et de production dans les systèmes manufacturiers de tranches, en faisant collaborer chercheurs, acteurs intermédiaires et industriels, dans une démarche d’implémentation et d’amélioration continue.

Pleinement positionnée depuis plusieurs années sur les enjeux et défis de l’industrie du futur, l’École des Mines de Saint‐Étienne trouve dans ce projet un aboutissement stratégique et méthodologique au niveau international. La nouvelle expertise développée par l’Institut Fayol dans ce projet pourra ultérieurement être transférée vers d’autres domaines d’application, permettant d’élargir la valeur ajoutée de ces développements pour l’industrie française et européenne.

3 avril 2020
2 avril 2020
1 avril 2020
31 mars 2020

Composants
ZOOM SUR LE MODULE UBLOX ZED F9P ! Conçu dans un format compact, le module ZED-F9P est équipé de la nouvelle génération de chipset [...]
Pour communiquer sur vos produits,
n.heurlin@electroniques.biz - 02.98.27.79.99
Pour toute question, merci de nous contacter