Highly Accelerated Life Test, Highly Accelerated Stress Screening. Ces deux techniques dites de tests aggravés permettent de créer un environnement combinant haute ou basse température, vibrations et transitions thermiques rapides. L’objectif est de définir le niveau de fiabilité d’une nouvelle carte électronique, d’un nouveau module, etc. [Halt], ou de contrôler le procédé de fabrication de ces produits [Hass] en reproduisant tout ce qui peut arriver au cours de leur utilisation normale dans un laps de temps réduit.